Hlavní stránka > Výsledky hledání: "Mikroskopie 2013"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 4 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Very low energy STEM for biology
 Frank, Luděk ; Nebesářová, Jana ; Vancová, Marie ; Paták, Aleš ; Müllerová, Ilona
Examination of tissue sections with transmitted electrons has been performed at energies of hundreds and tens of eV with thicknesses of sections of 10 nm or less. This was possible by employing the cathode lens principle working without lowest energy limitations with the help of biasing the sample to a high negative potential. The reflected and transmitted electrons were attracted with the same electric field to earthed detectors situated above and below the sample. Very high image contrasts have been obtained even for samples free of any heavy metal salts for contrast enhancement.
Úplný záznam
Electron vortex beam
 Müllerová, Ilona ; Řiháček, Tomáš
Vortex electromagnetic waves contain a phase singularity along their propagation direction and are formed by the spiralling wave fronts that give rise to angular momentum in that direction. Vortex photon beams are widely used optical tweezers to manipulate micrometre-sized perticles, as optical micro motors etc.
Úplný záznam
Reflectivity of very low energy electrons from polycrystalline metal samples
 Pokorná, Zuzana
The reflectivity of very low energy electrons from the surfaces of both single crystal and polycrystalline aluminium and copper was measured in a Scanning Low Energy Electron Microscope in Ultra High Vacuum conditions. This metod alows for an ultra high resolution of the order of units of nanometers even at the lowest electron energies.
Úplný záznam
Simulation of electron trajectories in thin foils and electromagnetic fields of STEM
 Novotný, Peter ; Konvalina, Ivo ; Mika, Filip ; Müllerová, Ilona
Knowledge of angular and energy distribution of Trnsmitted Electrons (TE) is very important for the unerstading of image formation in Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM).
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English